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Particle Counter(顆粒檢測)

涌淳半導(dǎo)體專注于半導(dǎo)體工藝設(shè)備的研發(fā)、制造、銷售及售后一體化服務(wù),提供半導(dǎo)體廠商工藝設(shè)備的一站式解決方案。

關(guān)鍵詞:

半導(dǎo)體設(shè)備、半導(dǎo)體工藝

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產(chǎn)品咨詢:

產(chǎn)品描述

The instrument uses laser beam scanning for detecting defect contamination and displays scan results in color-coded wafer maps, histograms, and summaries.

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